CSK-ⅢA試塊為什么銑圓弧槽？
 
 對于使用過JB/T 4730-2005的朋友，對CSK-IIIA試塊都不陌生。在NB/T4730.3-2015中該試塊已經較少使用，但仍做保留。CSK-IIIA試塊正逐漸退出歷史舞臺，試塊退出歷史的原因有待進一步從標準編者處了解，從本文章編者了解其主要原因為CSK-ⅢA試塊與國際標準試塊差別較大（ASME V卷 ISO均為長橫孔試塊），很難與國際接軌。CSK-ⅢA試塊無法進行直探頭校準（如檢測插入式接管時不適用）。
 
 CSK-ⅢA試塊結構如下：
 
 如上圖，CSK-ⅢA試塊兩個側面分別有銑弧，φ1*6mm短橫孔在圓弧上鉆孔。那么為什么要進行銑弧之后再鉆孔？（此處感謝甘肅蔡工提的問題，根據問題編者查閱資料，也是弄清楚原因，并突發(fā)靈感，準備開設冷知識專欄）。
 
 原因：因為短橫孔加工難度相對較大，為了克服邊界效應，在試塊的側面加工一個半圓弧，該半圓弧實際只能消除部分邊界效應。
 
 邊界效應：查閱GB/T 12604.1-2005 《無損檢測 術語 超聲檢測》，未見邊界效應說明，其中有邊緣效應：邊緣效應為超聲波由反射體邊緣衍射引起的現象。（此處各位同行有更好的理解歡迎聯系編者，相互交流）
 
 知識拓展：
 （1）短橫孔：
 定義：孔長大于孔徑，但小于聲束直徑的圓柱孔成為短橫孔。
 特點：它的反射聲壓變化規(guī)律在近場時類似于長橫孔，在遠場時接近于平底孔。它能適應不同角度的斜探頭。
 
 （2）長橫孔：
 定義：孔長大于聲束直徑的圓柱孔稱為長橫孔。當長橫孔貫穿試塊寬度時又可稱為橫通孔。
 特點：長橫孔反射規(guī)律接近焊縫中的長條狀缺陷；長橫孔圓柱面有各向對稱性，能適應不同角度斜探頭；長橫孔的發(fā)射聲壓規(guī)律性較好，利用長橫孔做的距離波幅曲線較為圓滑。
 
 應用：焊縫檢測。
 （3）平底孔：
 定義：平底孔（FBH）,圓盤缺陷（disc flaw）,圓盤形反射體（disc shaped reflector）,平面的圓盤形反射體——出自：GB/T 12604.1-2005 《無損檢測 術語 超聲檢測》
 
 特點：在遠場時，平底孔返回聲壓隨其孔徑和距離探頭的距離變化的規(guī)律性較好，因此在縱波直探頭檢測中幾乎用平底孔作為評價基準和參考反射體孔型。平底孔適用于小于聲束截面且在聲束垂直方向上有一定投影面積的片狀或體積狀缺陷的定量，即所謂定缺陷的平底孔當量尺寸。平底孔制作要求較高，孔的尺寸要求**，孔的垂直度偏差要求小，平底面的光潔度要求很高。