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菲希爾XDL系列X射線熒光鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL
菲希爾XDL系列X射線熒光鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。它是由大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似,它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時(shí)還能全自動(dòng)檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本參數(shù)法,因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。其測量范圍為元素氯(17)到鈾(92)。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
測量超薄杜策,例如:裝飾鉻
測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
全自動(dòng)測量,如測量印刷線路板
分析電鍍?nèi)芤?br>
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計(jì)為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預(yù)期用途,有不同的版本。
XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺,固定位置的 Z 軸系統(tǒng)。
XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸系統(tǒng)。
XDL 230 型配有可手動(dòng)操控的 X/Y 工作臺,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDL 240 型則配備了馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 X/Y 工作臺,當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí),工作臺會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDL系列儀器可選配圓形或長方形準(zhǔn)直器,采用比例接收器,測量距離為0-80mm,使用**保護(hù)的DCM測量距離補(bǔ)償法。
使用高分辨率的CCD彩色攝像頭
儀器重量100kg-120kg
儀器使用時(shí)溫度范圍10℃-40℃,空氣相對濕度為≤95%,無結(jié)露
計(jì)算機(jī)要求:帶擴(kuò)展卡的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
可按要求,提供額外的XDL型產(chǎn)品更改和XDL儀器技術(shù)咨詢